X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
簡(jiǎn)要描述:X射線熒光鍍層測(cè)厚儀/x-ray測(cè)厚儀/熒光光譜測(cè)厚儀X-strata 920是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡(jiǎn)單、快速、無損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
- 產(chǎn)品型號(hào):X-strata 920
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2024-07-08
- 訪 問 量:1806
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀/x-ray測(cè)厚儀/熒光光譜測(cè)厚儀X-strata 920是電子電鍍行業(yè)使用zui多的一款X射線無損鍍層測(cè)厚儀,適合PCB電子線路板電鍍層小點(diǎn)多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試,電子線路板行業(yè)用戶zui多和口碑很好的一款設(shè)備。
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀/x-ray測(cè)厚儀/熒光光譜測(cè)厚儀X-strata 920特點(diǎn)概述:
1、新型號(hào)設(shè)計(jì)
快速分析(幾秒)1-4層鍍層厚度
多款規(guī)格,例如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)、加深樣品臺(tái)或自動(dòng)程控樣品臺(tái),滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測(cè)大面積樣品,例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測(cè)方法
2、高性能、高精度、長(zhǎng)期穩(wěn)定性
快速的分析帶來生產(chǎn)成本*化
測(cè)定元素厚度
優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測(cè)量
3、堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
可靠近生產(chǎn)線或在實(shí)驗(yàn)室操作
生產(chǎn)人員易于使用
4、簡(jiǎn)單的校準(zhǔn)調(diào)試
在沒有標(biāo)準(zhǔn)片時(shí),經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡(jiǎn)單可靠的定量結(jié)果
方法建立只需幾分鐘
我們提供認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)片以確保*度(A2LA 和 ISO/IEC17025)
預(yù)置了多種校準(zhǔn)參數(shù)
/x-ray測(cè)厚儀/熒光光譜測(cè)厚儀X-strata 920預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法
的長(zhǎng)期穩(wěn)定性:
自動(dòng)熱補(bǔ)償功能測(cè)量?jī)x器溫度變化并做修正,
確保穩(wěn)定的測(cè)試結(jié)果
例行進(jìn)行簡(jiǎn)單快 速的波譜校 準(zhǔn),可自 動(dòng)檢查
儀器性能(例如靈敏性)并進(jìn)行必要的修正
避免不同操作的結(jié)果偏差
鐳射聚焦
簡(jiǎn)單的“定點(diǎn)-按鍵”操作將樣品聚焦
固定焦距高度: 0.5” (12.7 mm)
可分析不同形狀和尺寸的樣品
多準(zhǔn)直器
靈活選擇準(zhǔn)直器,優(yōu)化測(cè)試結(jié)果
*的靈敏性和分析速度
zui多可配6個(gè)準(zhǔn)直器,提高應(yīng)用能力
的系統(tǒng)安全性
為日常操作員設(shè)定簡(jiǎn)單的、功能受限的用戶界面
管理員可進(jìn)入系統(tǒng)進(jìn)行維護(hù)
系統(tǒng)使用由操作者登錄
自動(dòng)鎖定功能防止未授權(quán)的操作
結(jié)果輸出
結(jié)果可導(dǎo)出Excel表格或報(bào)告生成自定義
用戶可自定義統(tǒng)計(jì)分析格式
包括統(tǒng)計(jì)分析數(shù)據(jù)
獲取樣品圖象到報(bào)告中
/x-ray測(cè)厚儀/熒光光譜測(cè)厚儀X-strata 920樣品臺(tái)介紹:
1、加深樣品臺(tái)
高度每半英寸(12.7mm)可調(diào),架構(gòu)式樣品艙可容納zui大高度6.3"(160mm)的樣品
2、固定樣品臺(tái)
樣品臺(tái)位置固定,經(jīng)濟(jì)、實(shí)用,平面樣品臺(tái)設(shè)計(jì),適合高,度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
3、程控樣品臺(tái)
用于自動(dòng)化測(cè)量,方便根據(jù)測(cè)試位置放置樣品,并精準(zhǔn)定位測(cè)量點(diǎn),樣品臺(tái)尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (寬),程控臺(tái)移動(dòng)距離:7" x 7",即178mm x 178mm
/x-ray測(cè)厚儀/熒光光譜測(cè)厚儀X-strata 920符合以下標(biāo)準(zhǔn):
ASTM B568: X射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
ISO 3497: 金屬鍍層 — X 射線光譜法測(cè)量鍍層厚度
可分析多種樣品形狀和尺寸
可分析多種樣品類型,從微小的電子元件到浴室配件
提供多種硬件供選配,滿足各種需要
射線熒光鍍層測(cè)厚儀/x-ray測(cè)厚儀/熒光光譜測(cè)厚儀X-strata 920應(yīng)用行業(yè)如下:
1、電子行業(yè) - 有效控制生產(chǎn)過程,提高生產(chǎn)力
分析電子件上的金和鈀的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu
測(cè)量線路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
2、五金電鍍行業(yè) - 電鍍表面處理的成本zui小化,產(chǎn)量zui大化
多樣品和多點(diǎn)分析
單層或多層厚度測(cè)量
鍍液成份分析
3、貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析
分析及其他元素測(cè)定
貴金屬合金檢測(cè)
4、*性檢測(cè) - 確保產(chǎn)品符合規(guī)格
測(cè)定有害物質(zhì)從ppm級(jí)到高百分比級(jí)
有毒元素定量分析,例如檢測(cè)鎘、汞、鉛等含量是否符合規(guī)定
按照IEC62321進(jìn)行RoHS篩選
對(duì)航空焊料可靠性鑒定進(jìn)行高可靠檢測(cè)
5、新能源行業(yè) - 確保產(chǎn)品有效*
光電池薄膜吸收層(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析
通過鍍層厚度分析優(yōu)化導(dǎo)電性
更多信息請(qǐng)。